产品展示您当前的位置:首页 > 产品展示 > 程控耐压测试仪 > 综合测试仪 > IC测试仪
IC测试仪

IC测试仪

型    号: IST6500
报    价:

IC测试仪

IST6500IC测试仪的详细资料:

产品说明:存储器IC测试仪。对DRAM、SIMM、SRAM、VRAM、及PCMCIA卡提供即时的功能分析测试。提供多种测试模式;zui高容量64MB.
 

本系统的主要特点
  存储器IC测试仪。对DRAM、SIMM、SRAM、VRAM、及PCMCIA卡提供即时的功能分析测试。提供多种测试模式。
zui高容量64MB,zui宽144位,且成本低廉全可编程。  
主要功能:  
    IST6500型存储器功能参数测试仪
在2NS基频下,提供四种方法自动测试存取时间 在2NS到160NS的各种器件(DRAM定时参数可编程提供1NS的基频)从而实现实时测试。
兼备有高速双通道阈值比较器的可编程动态加载,允许用户编程DUT输出口负载,以达到一个宽的工作范围。这一特性在SIMN器件测试钟尤其重要,因为后者须经常驱动,大容量小电阻的负载。 
  6500通过RS-232与PC机接口,器机械手接口具有“料箱排序”功能,可将器件按照选定的工作参数进行排序,这在工程元件特性或GO/NO GO测试中很具有典型意义。 IST6500易于编程,且存储有100个不同的用户自定义测试路径,提供了器件的各种工作参数包括存取时间,工作电流,备用电流,数据保持电流,输出负载,DUT电流源,定时参数,测试模式及逻辑阈值的自动引导测试或GO/NO GO测试,同时引导GO/NO GO 测试的参数的预置极限也可存储在程序里。 
  6500具备一系列完善的存储测试模式,并向用户提供短/长两种测试模式,它能在zui短的时间内完成绝大多数RAM指标的检测。数据测试模式包括:
全1,全0,方格噪声模式,步1,步0,列干扰,滑动斜行,移动倒置,这些模式能检测存储器芯片上及其他地址上的短路,开路或单值错误,也能检测芯片干扰,信号转换放大器干扰及噪声灵敏度错误。 
主要性能指标:  
  *可测试DRAM,SRAM,SIMN,VRAM器件(容量可高达64MB)的同步电流,输出驱动,阈电压,电源边界参数。
*DRAM定时参数测试可以编程到1NS或“自动定时寻找”。
*提供刷新测试,基本,快速检测,密集或用户定义的测试模式。
*错误停止/错误步进,显示错误地址及错误位。
*测试回路内部自动转换不需要位每个测试器件装配分立模块。
*通用主机及专用插入式家用模块设计,可根据内存器件的变化随时进行扩充。
*支持DIP,ZIP,SOJ,SIP,PLCC,TSOP多种封装。
*后备电池支持的RAM存储了100个用户程序,用以各器件的特性的特性测试,因而提供 了“一次性操作”。
*配有232接口可独立操作或与PC联机操作,也可连接机械手对器件分类筛选。
*自动参数的缺省值允许瞬时“单键”测试。
*测速高达0.9SEC/MB/模式的DMA高速硬件测试电路.

 如果你对IST6500IC测试仪感兴趣,想了解更详细的产品信息,填写下表直接与厂家联系:

留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

上一篇:TN2481 风速计

下一篇:MS2721A频谱分析仪